Приборы и оборудование Центра |
Технические характеристики |

Технологическое помещение с нормируемыми параметрами окружающей среды (класс 5+7 по ГОСТ ИСО)
|
- Площадь чистой зоны: 100 м2
- Класс чистоты по ГОСТ ИСО 14644-1-2002: 5÷7
- Климатические параметры:
- температура: 20-24 оС
- влажность 60-75 %
- Стабильность температуры: 0,5 оС/час
- Стабильность влажности: 1 % в час
- Максимальное энерговыделение аппаратуры: 7 КВт
- Максимальное число работающих: 8 чел.
|
|

FC1500-250 – синтезатор оптических частот компании Менло Системс ГмбХ
|
- Стабилизированная шкала эквидистантных частот в спектральном диапазоне: 500-2100 нм
- Частотный интервал между отдельными линиями: 250 MГц
- Точность: 10-14
- Стабильность: 5×10-13 за 1 секунду
|
|

Анализатор размера частиц ZetasizerNano фирмы Malvern
|
- Измеряемые параметры:
- размер частиц
- дзета потенциал
- абсолютная молекулярная масса
- Анализируемые образцы - молекулярные и коллоидные растворы, суспензии, эмульсии
- Диапазон размеров: 0.6 нм – 6.0 мкм
- Диапазон определяемой молекулярной массы - от 1x103 до 2x107 Дальтон
- Диапазон концентраций - от 0.1 мг/мл до 40% (объёмных/весовых)
- Лазер - 4 мВт, 633 нм, He-Ne
|
|

Нанопрофилометр Zygo NewView 6200
|
- Длина когерентности оптического излучения, мкм: 2,9
- Диапазон вертикального сканирования, мкм: 150
- Вертикальное разрешение, нм: <0,1
- Скорость сканирования, мкм/сек – до 7
- Расширенный диапазон вертикального сканирования, мм: 15
- Вертикальное разрешение в расширенном диапазоне, нм: <100
- Латеральное разрешение, мкм (зависит от объектива): 0,37÷9,5
- Количество элементов изображения (формат ПЗС-матрицы): 640х480
- Линейное поле зрения, мм: 0,03÷14
|
|

СЗМ Innova фирмы Veeco
|
- Режимы работы СЗМ в воздухе и жидкостях:
- контактный, полуконтактный/ резонансный режим
- режим визуализации фазы колебаний кантилевера
- микроскопия сил трения
- силовая спектроскопия
- модуляционная силовая микроскопия
- электростатическая силовая микроскопия
- микроскопия поверхностного потенциала
- магнитная силовая микроскопия
- Стандартное оборудование СЗМ: система сканирования образцом, обеспечивающая постоянное положение зонда по координатам XY и Z относительно лазерного источника и фотодетектора
- Возможности наращивания
- сканирующая емкостная микроскопия
- сканирующая микроскопия сопротивления растекания
- туннельная атомно-силовая микроскопия
- атомно-силовая микроскопия проводимости
- атомно-силовая микроскопия проводимости в режиме торсионного резонанса
|
|

NVision 40 фирмы Carl Zeiss
|
- Электронная пушка – Автоэмиссионный катод типа Шоттки, стабильность пучка по току не хуже 0,2%/час / 0,4%/сутки
- Ионная пушка – на базе Ga-источника
- Ускоряющее напряжение электронной пушки: от 100 до 30000 В (шаг 10В)
- Ускоряющее напряжение ионной пушки: от 2 000 до 30 000 В
- Сканирование и литография: с разрешением до 50 нм
- Полный диапазон увеличений: от 12х до 900 000х
- Разрешающая способность электронной колонны: 0,8 нм при использовании STEM-детекторов
- Разрешающая способность ионной колонны: 4нм
- Вакуумная система
- безмаслянная
- рабочий высокий вакуум в камере не хуже 2х10-6гПа
- рабочий высокий вакуум в пушках не хуже 2х10-9гПа
|
|

Libra 120
|
- Ускоряющее напряжение: до 120 000 В или выше
- Катодный узел: для работы с W-катодом и LaB6-катодом или с автоэмиссионным катодом Шоттки
- Диапазон увеличений: от 8х до 630 000х
- Разрешающая способность
- по линии не хуже 0,2 нм
- по точкам не хуже 0,34 нм
- Вакуумная система – раздельная откачка участков ПЭМ (пушка/колонна/камера наблюдения)
- Система получения изображения: цифровая камера с разрешением до 3072х2304 пикселей
- Дополнительное оборудование, имеется возможность установки на микроскоп:
- энергодисперсионного спектрометра с разрешением не хуже 136 эВ
- ограничителя луча
- сканирующей приставки с разрешением 1.5 / 2.0 /2.0 нм
- детектора вторичных электронов
- детектора отраженных электронов
- детектора электронов рассеянных под высокими углами
- детектора темного поля
- детектора светлого поля
|
|

Shimadzu – Рентгеновский дифрактометр
|
- Мощность: не менее 3 кВт
- Максимальное напряжение: 60 кВ, шаг 1 кВ
- Минимальный шаг гониометра: 0.00010
- Диапазон углов сканирования: от -12 до +1640
- Макимальные размеры образца (ДхШхВ): 400 мм х 550 мм х 400 мм
- Детектор: сцинтилляционный без принудительного охлаждения (NaI)
|
|

Ближнепольный микроскоп Witec
|
- Разрешающая способность: 100 нм
- Режимы работы:
- фотолюминесценция
- рамановская спектроскопия
- флуорисценция
- Материал образцов
- металлы
- полупроводники
- пластики
- биоматериалы
- Диапазон углов сканирования: от -12 до +1640
- Совмещение: с АФМ модулем
- Источник излучения
- лазерный диод (785 нм)
- He-Ne (632.8 нм)
- Nd-YAG / SHG (532 нм)
|
|

МИА-1 – Автоматизированный лазерный микроинтерферометр
|
- Длина волны зондирующего излучения, нм: 532, 650, 690
- Поле зрения, мкм: 145 х 100, 30 х 23
- Разрешение латеральное, мкм: 0,5
- Разрешение по глубине, нм: 2
- Алгоритм реконструкции фазы: метод фазовых шагов
- Возможность измерения параметров слоистых структур, измерение в жидких средах, с высоким уровнем шумов
|
|

Конфокальный сканирующий микроскоп Veeco
|
- Разрешение: 80 нм
- Стандартные режимы: светлое и темное поле
- Опционально:
- дифференциальный
- интерференционный контраст
- Поле зрения: 950 мкм x 750 мкм (объектив 5x)
- Видеокамера: 1280 x 1024 пиксел
- Максимальная толщина образца: 2.5 см
- Скорость сканирования (максимально): 23 мкм/с
- Набор объективов: 5X, 10X, 20X, 50X, 100X
|
|

|
Стандартные образцы представляют собой суспензию наночастиц коллоидного золота в деионизованной воде, Комплект ГСО состоит из 3 ампул, содержащих водные суспензии наночастиц золота с номинальным размером 10, 30 и 60 нм.
|