ПУБЛИКАЦИИ
Метрология лазерного излучения, Метрология в ВОСП, Метрология в здравоохранении и производстве медицинской техники, генерирование и измерение параметров электромагнитных импульсов, Фотометрия и радиометрия, Ультрафиолетовое излучение
ФОТОМЕТРИЯ И РАДИОМЕТРИЯ
МЕТРОЛОГИЯ ЛАЗЕРНОГНО ИЗЛУЧЕНИЯ
УФ-ИЗЛУЧЕНИЕ
МЕТРОЛОГИЯ В ВОСП
ГОЛОГРАФИЯ, ИНТЕРФЕРОМЕТРИЯ, РЕФРАКТОМЕТРИЯ, ПОЛЯРИМЕТРИЯ
МЕТРОЛОГИЯ В ЗДРАВООХРАНЕНИИ И ПРОИЗВОДСТВЕ МЕДИЦИНСКОЙ ТЕХНИКИ
ГЕНЕРИРОВАНИЕ И ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ИМПУЛЬСОВ
МЕТРОЛОГИЯ В ОБЛАСТИ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ
МЕТРОЛОГИЯ В ОБЛАСТИ НАНО
  • Золотаревский С.Ю., Савченко А.Г., Кононогов С.А., Крутиков В.Н., Формирование баз данных в области метрологического обеспечения нанотехнологий и продукции наноиндустрии, Законодательная и прикладная метрология №1, 2012, с. 16
  • Максимов Г.В., Браже Н.А., Юсипович А.И., Паршина Е.Ю., Родненков О.В., Рубин А.Б., Левин Г.Г.(ВНИИОФИ), Быков В.А., Использование наночастиц для исследования гемоглобина, Метрология №5, 2012, с. 40
  • Биленко И.А.,*Булыгин Ф.В.,*Драчева О.Е.,*Занин А.М.,**Лясковский В.Л.,*Скоблин А.А.,**Стовбун С.В.,**Федоренко В.С.* (*ВНИИОФИ, **МИХФ им. Н.Н. Семенова), Исследование структуры и динамики сложных химических соединений методом динамического рассеяния света, Измерительная техника №6, 2012, с. 70
  • Золотаревский Ю.М., Левин Г.Г., Интерференционные измерения в нанотехнологиях, Измерительная техника №7, 2012, с. 24
  • Левин А.Д., Лясковский В.Л., Нагаев А.И., Прибытков В.А., Творогова С.А., Разработка стандартных образцов размера наночастиц в жидкой среде, Стандартные образцы в измерениях и технологиях.Сб-к трудов. Екатеринбург: ФГУП "Уральский научно-исследовательский институт метрологии".Материалы "3-й Всероссийской научно-технической конференции с международным участием", 2011, с. 103
  • Асейчев А.В., Бекман Э.М., Скотникова О.И., Азизова О.А., Творогова С.А., Левин А.Д., Исследование формирования оболочки вокруг золотых наночастиц при их инкубации с плазмой и влияния таких частиц на функции клеток крови, 2-я Международная школа "Наноматериалы и нанотехнологии в живых системах. Безопасность и наномедицина" Тезисы докладов, 2011, с. 83
  • Левин А.Д., Нагаев А.И., Творогова С.А., Демин В.А., Бузулуков Ю.П., Разработка стандартных образцов наночастиц для биомедицинских приложений, 2-я Международная школа "Наноматериалы и нанотехнологии в живых системах. Безопасность и наномедицина". Тезисы докладов, 2011, с. 26
  • Максимов Г.В., Браже Н.А., Юсипович А.И., Паршина Е.Ю., Родненков О.В., Рубин А.Б., Левин Г.Г., Быков В.А., Использование наночастиц для исследования конформаций примембранного гемоглобина, Биофизика Т.56 №6, 2011, с. 1099
  • Золотаревский Ю.М.. Андрюшечкин С.Е., Булыгин Ф.В., Гусев А.С., Основные направления работ по развитию методической базы метрологии наноиндустрии РФ в 2011 г., 4-я школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы" 26-29 апр. 2011 г., г.Новосибирск. Тезмсы докладов, 2011, с. 18
  • Муравская Н.П., Метрологическое обеспечение оценки параметров композиционных наноматериалов, 4-я школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы" 26-29 апр. 2011 г., г.Новосибирск. Тезмсы докладов, 2011, с. 36
  • Рыхлицкий С.В.(Ин-т физики полупроводников г.Новосибирск), Швец В.А.(Ин-т физики полупроводников, г.Новосибирск), Вишняков Г.Н.(ФГУП ВНИИОФИ, г.Москва), Левин Г.Г.(ФГУП ВНИИОФИ, г.Москва), Метрологическое обеспечение единства эллипсометрических измерений, 4-я школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Функциональные наноматериалы" 26-29 апр. 2011 г., г.Новосибирск. Тезмсы докладов, 2011, с. 62
  • Муравская Н.П., Метрологическое обеспечение оценки параметров композиционных наноматериалов, Измерительная техника №9, 2011, с. 58
  • Левин А.Д., Садагов Ю.М., Короли Л.Л., Определение размеров наночастиц в коллоидных растворах при элементном анализе на электротермическом атомно-абсорбционном спектрометре, Измерительная техника №10, 2011, с. 55
  • Левин А.Д., Нагаев А.И., Рукин Е.М., Садагов Ю.М., Асейчев А.В.(НИИ физико-химической медицины), Проблемы методического обеспечения биомедицинских нанотехнологий, «Измерительная техника» №8, 2010, с.29
  • Андрюшечкин С.Е., Определение размера и молекулярной массы кластеров полисульфида натрия в растворе аммака методом динамического рассеяния света, «Метрология» №7, 2010, с.44
  • Булыгин Ф.В., Лясковский В.Л., Исследование методов измерения диаметра электронного зонда сканирующих электронных микроскопов с помощью современных мер нанометрового диапазона, «Метрология» №7, 2010, с.34
  • Федоренко В.С., Гусев А.С., Волошин Д.В., Булыгин Ф.В., О возможности калибровки лазерного автокорреляционного анализатора размера частиц с помощью бензола и его производных, «Метрология» №7, 2010, с.27
  • Муравская Н.П., Лахов В.М., Кайдалов С.А., Иванов А.В., Оптико-физические измерения в химической физике, физической химии и нанохимии, «Измерительная техника» №7, 2010, с.70
  • Зайцев Д.Ф. (МИРЭА), Крутиков В.Н., Сахаров К.Ю., Тихомиров С.В., Проблемы метрологического обеспечения измерений параметров оптических сигналов и устройств в радиолокационных системах аналоговой нанофотоники, «Измерительная техника» №7, 2010, с.49
  • Левин Г.Г., Илюшин Я.А.(МГУ), Минаев В.Л., Моисеев Н.Н., Определение наноперемещений объекта по оптическому фазовому изображению, «Измерительная техника» №7, 2010, с.38
  • Золотаревский Ю.М., Аневский С.И., Иванов В.С., Крутиков В.Н., Лахов В.М., Минаева О.А., Минаев Р.В., Использование синхротронного излучателя для исследования многослойных наноструктур, «Измерительная техника» №7, 2010, с.32
  • Бурлаков И.Д. (НПО «Орион»), Дёмин А.В.(ВНИИОФИ), Левин Г.Г. (ВНИИОФИ), Пискунов Н.А. (МГУ), Заботнов С.В.(МГУ), Кашуба А.С.(НПО «Орион»), Измерение интенсивности генерации второй оптической гармоники в гетероэпитаксиальных структурах теллурида кадмия-ртути, «Измерительная техника» №6, 2010, с.15
  • Левин Г.Г., Илюшин Я.А., Золотаревский С.Ю., Кононогов С.А. Лысенко В.Г. Моделирование процессов рассеяния оптического излучения нанообъектами с конечными диэлектрической проницаемостью и проводимостью - ж-л «Метрология» №1 — 2010, с. 10
  • Илюшин Я.А., Ломакин А.Г., Золотаревский С.Ю., Левин Г.Г., Кононогов С.А. Численное моделирование процедуры восстановления рельефа оптической поверхности с учётом рассеяния излучения на наноструктурах - ж-л «Метрология» №2 — 2010
  • Левин Г.Г., Илюшин Я.А., Золотаревский С.Ю., Кононогов С.А., Лысенко В.Г. Особенности взаимодействия зондирующего электромагнитного излучения с наноразмерными объектами при формировании интерферограмм - ж-л «Законодательная и прикладная метрология» №1 — 2010, с. 23
  • Адибекян А.Р., Акимов Ю.Д., Аневский С.И., Лашков Д.Н., Минаева О.А., Минаев Р.В., Морозов О.Ю., Сенин Д.С., Исследования спектрорадиометрических характеристик излучающих наноструктур светодиодов, Второй международный форум по нанотехнологиям "Rusnanotech". Тезисы докладов. М., 2009, с. 37
  • Аневский С.И., Золотаревский Ю.М., Иванов В.С., Крутиков В.Н., Минаева О.А., Минаев Р.В., Сенин Д.С., Использование синхротронного излучения для диагностики наноструктур методами УФ-спектрорадиометрии, Второй международный форум по нанотехнологиям "Rusnanotech". Тезисы докладов. М., 2009, с.38
  • Аневский С.И., Минаева О.А., Минаев Р.В., Сенин Д.С., Многослойные наноструктуры для спектральной коррекции многоканальных радиометров при космических исследованиях солнечной активности, Второй международный форум по нанотехнологиям "Rusnanotech". Тезисы докладов. М., 2009, с. 39
  • Демин А.В., Левин Г.Г. Наноэлектроника и нанофотоника на Первом Международном форуме по нанотехнологиям. - ж-л «Измерительная техника» №6 — 2009, с. 67
  • Левин Г.Г., Илюшин Я.А., Золотаревский С.Ю., Кононогов С.А. Моделирование процессов рассеяния оптического излучения наноразмерными структурами. - ж-л «Метрология» №12 — 2009, с. 7
  • Левин Г.Г., Моисеев Н.Н. Нанодиагностика на Международном форуме по нанотехнологиям «Руснанотех-2008» . - ж-л «Измерительная техника» №7 — 2009, с. 65
  • Мигачев Б.С., Золотаревский Ю.М., Булыгин Ф.В., Коркин В.Б. Особенности подготовки кадров для методического обеспечения нанотехнологий. - ж-л «Компетентность» №3 — 2009, с. 10
  • Адибекян А.Р., Акимов Ю.Д., Аневский С.И., Лашков Д.Н., Минаева О.А., Минаев Р.В., Морозов О.Ю., Сенин Д.С. Исследования спектрорадиометрических характеристик излучающих наноструктур светодиодов - «Сборник тезисов докладов участников Второго Международного форума по нанотехнологиям» - 2009, с. 37
  • Аневский С.И., Золотаревский Ю.М., Иванов В.С., Минаева О.А., Минаев Р.В., Сенин Д.С., Крутиков В.Н. Использование синхротронного излучения для диагностики наноструктур методами УФ-радиометрии - «Сборник тезисов докладов участников Второго Международного форума по нанотехнологиям» - 2009, с. 38
  • Аневский С.И., Минаева О.А., Минаев Р.В., Сенин Д.С., Лахов В.М.,Котов Ю.Д., Кочемасов А.В. Многослойные наноструктуры для спектральной коррекции многоканальных радиометров при космических исследованиях солнечной активности - «Сборник тезисов докладов участников Второго Международного форума по нанотехнологиям» - 2009, с. 39
  • Аневский С.И., Волков Б.С., Минаева О.А., Минаев Р.В., Лашков Д.Н., Сенин Д.С., Цыганков П.А. Высокоэфективные отражающие покрытия на основе суперрешётки Mo/Si для области экстремального ультрафиолета - «Сборник тезисов докладов участников Второго Международного форума по нанотехнологиям» - 2009, с. 41
  • Левин Г.Г., Минаев В.Л., Моисеев Н.Н., Золотаревский С.Ю. Применение оптических интиереферометров в эталонном комплексе по определению шероховатости поверхности - «Сборник тезисов докладов участников Второго Международного форума по нанотехнологиям» - 2009, с. 241
  • Андрюшечкин С.Е., Рябчикова Л.П., Лазарева О.Л. Формирование металлполимерных молекулярных структур на основе наноразмерной пленки сульфида меди в электрохимическом процессе. - «Сборник тезисов докладов участников Второго Международного форума по нанотехнологиям» - 2009, с. 348
  • Левин А.Д., Рукин Е.М., Гершман Е.И., Асейчев А.В., Захарова Л.А., Мельникова В.И. Характеризация наночастиц в биологических жидкостях и тканях оптико-спектральными методами - «Сборник тезисов докладов участников Второго Международного форума по нанотехнологиям» - 2009, с. 579
  • Левин Г.Г., Демин А.В., Федянин А.А., Кашкаров П.К., Бурлаков И.Д. Создание метрологического комплекса для измерений оптических постоянных наноструктурированных сред и метаматериалов в нанофотонике - «Сборник тезисов докладов участников Второго Международного форума по нанотехнологиям» - 2009, с. 617
  • Булыгин Ф.В., Мигачев Б.С., Золотаревский Ю.М., Коркин В.Б. Особенности подготовки кадров для методического обеспечения нанотехнологий Компетентность № 3 ,т. 64, 2009, с. 10-18
  • Крутиков В.Н., Золотаревский Ю.М., Андрюшечкин С.Е. Метрологическое обеспечение, стандартизация и оценка соответствия нанотехнологий и нанопродукции. Ч.1 — ж-л «Метрология» №2 — 2008, с. 5
  • Левин Г.Г. Материалы нанофотоники и методы измерения их параметров. - ж-л «Мир измерений» №1 — 2008, с. 16
  • Булыгин Ф.В., Левин Г.Г. «Применение сканирующего электронного микроскопа для создания наноразмерных и дифракционных структур методом электронно-лучевой литографии», 17-я конф. «Фотометрия и ее метрологическое обеспечение» Тезисы докладов. М., ВНИИОФИ, 2008, с. 36
  • Григорьев В.В., Лазарев В.А., Митюрев А.К., Пнев А.Б., Тихомиров С.В., Хатырев Н.П. «Информационно-измерительная система контроля деформации и температуры на основе наноразмерных волоконно-оптических периодических структур», 17-я конф. «Фотометрия и ее метрологическое обеспечение» Тезисы докладов. М., ВНИИОФИ, 2008, с. 127
  • Богданов Р.И., Демин А.В., Богданов М.Р. «Нелинейные свойства тонкопленочных матриц,активированных нанокристаллами,в рамках слабодиссипативной кам», 17-я конф. «Фотометрия и ее метрологическое обеспечение» Тезисы докладов. М., ВНИИОФИ, 2008, с. 55
  • Карасик В.Е., Лазарев В.А., Неверова Н.А., Пнев А.Б., Тихомиров С.В., Толстогузов В.Л. «Измерительная установка для калибровки датчиков деформации на основе наноразмерных волоконно-оптических периодических структур», 17-я конф. «Фотометрия и ее метрологическое обеспечение» Тезисы докладов. М., ВНИИОФИ, 2008, с. 122
  • Левин Г.Г., Демин А.В. «Измерение нелинейно-оптических свойств наноструктурированных тонкопленочных сред», 17-я конф. «Фотометрия и ее метрологическое обеспечение» Тезисы докладов. М., ВНИИОФИ, 2008, с. 44
  • Левин Г.Г. «О метрологическом обеспечении работ в области измерения метаматериалов и структур для нанофотоники», 17-я конф. «Фотометрия и ее метрологическое обеспечение» Тезисы докладов. М., ВНИИОФИ, 2008, с. 47
  • Тихомиров С.В., Хатырев Н.П. «Оптические методы метрологического обеспечения измерений состава вещества в нанотехнологии», 17-я конф. «Фотометрия и ее метрологическое обеспечение» Тезисы докладов. М., ВНИИОФИ, 2008, с. 119
  • Аневский С.И., Минаев Р.В. «Исследование пространственных энергетических характеристик плазменных излучателей для нанолитографии», 16-я конф. «Фотометрия и ее метрологическое обеспечение» Тезисы докладов. М., ВНИИОФИ, 2007, с. 103
  • Булыгин Ф.В., Минаев В.Л. «Повышение контраста изображения микрообъектов путем регистрации дифрагировавшего излучения», 16-я конф. «Фотометрия и ее метрологическое обеспечение» Тезисы докладов. М., ВНИИОФИ, 2007, с. 143
АТОМНО-СПЕКТРАЛЬНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ
МЕТРОЛОГИЯ БЫСТРОПРОТЕКАЮЩИХ ПРОЦЕССОВ
ПРОЧИЕ

Услуги

ФГУП «ВНИИОФИ» оказывает услуги по
поверке, калибровке средств измерений, аттестации методик проведения измерений

Приборы

В соответствии с положениями устава ФГУП «ВНИИОФИ» изготавливает и реализует высокоточные средства измерений

Метрологические характеристики могут уточняться в договорах на поставку конкретных средств измерений

ЭТАЛОННАЯ БАЗА

На базе ФГУП «ВНИИОФИ» размещена уникальная база
государственных первичных эталонов

Copyright ВНИИОФИ | iDesign&ServisDesk | 2009 - 2017

s.e.o.:NBmarketing