ПУБЛИКАЦИИ

Метрология лазерного излучения, Метрология в ВОСП, Метрология в здравоохранении и производстве медицинской техники, генерирование и измерение параметров электромагнитных импульсов, Фотометрия и радиометрия, Ультрафиолетовое излучение

ФОТОМЕТРИЯ И РАДИОМЕТРИЯ
МЕТРОЛОГИЯ ЛАЗЕРНОГНО ИЗЛУЧЕНИЯ
УФ-ИЗЛУЧЕНИЕ
МЕТРОЛОГИЯ В ВОСП
ГОЛОГРАФИЯ, ИНТЕРФЕРОМЕТРИЯ, РЕФРАКТОМЕТРИЯ, ПОЛЯРИМЕТРИЯ
 
  • G. Vishnyakov, G. Levin, V. Minaev, M. Latushko, N. Nekrasov and V. Pickalov, Differential interference contrast tomography, Optics Letters Vol. 41, No 13, 2016, с. 3037
  • Vishnyakov G.N., Levin G.G., Minaev V.L., Spectral analysis of the method for measuring phase shift from an interferogram, Measurement Techniques. Т. 58. № 11, 2016, с. 1228
  • Latushko M.I., Noise level estimation in phase images obtained using a shearing interference microscope, Measurement Techniques. Т. 58. № 11, 2016, с. 1234
  • Вишняков Г.Н., Левин Г.Г., Минаев В.Л., Интерферометр саундерса с плоским эталоном для измерения диаметра кремниевого шара, Голография. Наука и практика тезисы докладов XIII международной конференции. Московский государственный технический университет имени Н.Э.Баумана. Москва, 2016, с. 211
  • Вишняков Г.Н., Левин Г.Г., Минаев В.Л., Интерференционный микроскоп линника с супергладким опорным зеркалом, Голография. Наука и практика тезисы докладов XIII международной конференции. Московский государственный технический университет имени Н.Э.Баумана. Москва, 2016, с. 374
  • Vishnyakov, G.N., Levin, G.G., Minaev, V.L., Nekrasov, N.A., Local tomographic phase microscopy from differential projections, Optics and Spectroscopy 121 (6), 2016, с. 947
  • Latushko, M.I., Vishnyakov, G.N., Levin, G.G., Shearing Interference Microscope with Decoding of Differential Phase Patterns of Living Cells Using the Phase Stepping Method, Measurement Techniques  58 (11), 2016, с. 1238
  • Hartogh, P., Ilyushin, Y.A., A passive low frequency instrument for radio wave sounding the subsurface oceans of the Jovian icy moons: An instrument concept, Planetary and Space Science  130, 2016, с. 30
  • Вишняков Г.Н., Левин Г.Г., Минаев В.Л., Сдвиговая интерференционная микроскопия и микротомография с излучением от точечного светодиода, XII МЕЖДУНАРОДНАЯ КОНФЕРЕНЦИЯ «ГОЛОГРАФИЯ. НАУКА И ПРАКТИКА. (ГОЛОЭКСПО-2015)» Казань, 12-15 октября 2015 г. Сборник трудов, 2015, с. 121
  • Вишняков Г.Н., Левин Г.Г., Минаев В.Л., Спектральный анализ метода измерений фазового сдвига по интерферограммам, Измерительная техника №11, 2015, с. 34
  • Латушко М.И., Оценка уровня шумов фазовых изображений, получаемых с помощью сдвигового интерференционного микроскопа, Измерительная техника №11, 2015, с. 38
  • Латушко М.И., Вишняков Г.Н., Левин Г.Г., Сдвиговый интерференционный микроскоп с расшифровкой дифференциальных фазовых изображений живых клеток методом фазовых шагов, Измерительная техника №11, 2015, с. 40
  • Vishnyakov G., Levin G., Minaev V., Nekrasov N., Advanced method of phase shift measurement from variances of interferogram differences, Applied Optics 2015 V.54, 2015, с. 4797
  • Стовбун С.В., Скоблин А.А., Булыгин Ф.В., Минаев В.Л., Компанец В.О., Лаптев В.Б., Рябов Е.А., Чекалин С.В., Пермяков С.Е., Структурные переходы в хиральных растворах и микроскопическая модель хиральной струны, Химическая физика Т.34 №3, 2015, с. 10
  • Латушко М.И., Оценка погрешности реконструкции фазовых проекций в оптическом томографе, ВНТК «МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ФОТОНИКИ». Тезисы докладов. 14-17 апр. 2015. М.: ФГУП «ВНИИОФИ», 2015, с. 146
  • Некрасов Н.А., Предобработка томографических проекций, полученных на сканирующем сдвиговом интерферометре, ВНТК «МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ФОТОНИКИ». Тезисы докладов. 14-17 апр. 2015. М.: ФГУП «ВНИИОФИ», 2015, с. 149
  • Вишняков Г.Н., Левин Г.Г., Минаев В.Л., Метод измерения фазового сдвига на основе фурье-анализа разностных интерферограмм, Оптика и спектроскопия Т.118 №6, 2015, с. 1005
  • Левин Г.Г., Вишняков Г.Н., Минаев В.Л., Автоматизированный интерференционный микроскоп для измерения динамических объектов, Приборы и техника эксперимента №1, 2014, с. 79
  • Левин Г.Г., Моисеев Н.Н., Илюшин Я.А., Минаев В.Л., Влияние фокусировки на латеральное разрешение интерференционного микроскопа, Измерительная техника №1, 2014, с. 45
  • Вишняков Г.Н., Левин Г.Г., Минаев В.Л., Цельмина И.Ю., Интерференционная микроскопия субнанометрового разрешения по глубине. экспериментальные исследования, Оптика и спектроскопия. Т. 116. № 1, 2014, с. 170
  • Вишняков Г.Н., Левин Г.Г., Цаликова Н.А., Экспериментальные исследования метрологических характеристик оптического сканера CAD/CAM-системы OptikDent, Измерительная техника №11, 2013, с. 27
  • Вишняков Г.Н., Левин Г.Г., Минаев В.Л., Цельмина И.Ю., Интерференционная микроскопия субнанометрового разрешения по глубине. Численное моделирование, Оптика и спектроскопия Т.115 №6, 2013, с. 1039
  • Левин Г.Г., Моисеев Н.Н., Минаев В.Л., Илюшин Я.А., Сравнение латеральных разрешений оптического и интерференционного микроскопов, Измерительная техника №9, 2013, с. 48
  • Золотаревский С.Ю., Кононогов С.А., Лысенко В.Г., Левин Г.Г., Лясковский В.Л., Гусев А.С., Голубев С.С., Специфика формирования неопределенности измерений геометрических параметров рельефа поверхности методами интерферометрии высокого разрешения, Метрология №8, 2013, с. 11
  • Булыгин Ф.В., Золотаревский С.Ю., Кононогов С.А., Илюшин Я.А., Левин Г.Г., Лясковский В.Л., Анализ методов сверхразрешения в оптической интерференционной микроскопии, Метрология №8, 2013, с. 22
  • Новиков Д.А., Кононогов С.А., Золотаревский С.Ю., Вишняков Г.Н., Гусев А.С., Левин Г.Г., Лясковский В.Л., Анализ неопределенностей, обусловленных методическими и инструментальными погрешностями интерферометрии параметров рельефа и формы поверхности, Метрология №8, 2013, с. 31
  • Левин Г.Г., Вишняков Г.Н., Моисеев Н.Н., Минаев В.Л., О латеральном разрешении интерференционного микроскопа, Измерительная техника №5, 2013, с. 16
  • Дудаков А.В.,* Золотаревский Ю.М., Козичев В.В.** ( *ФГАОУ ДПО АСМС, Москва. **МГТУ им. Н.Э. Баумана), Численное снижение неопределенности измерения скорости горения твердого топлива, 19-я н-т конф. “Фотометрия и ее метрологическое обеспечение” 16-19 апр. 2013 г. Тезисы докл., 2013, с. 158
  • Демин А.В., Ежов А.А.*, Панов В.И.*, Щербаков М.Р.*, Федянин А.А.* (*МГУ им. М.В. Ломоносова. Физич. фак-т), Ближнепольная оптическая микроскопия планарных хиральных плазмонных метаматериалов, 19-я н-т конф. “Фотометрия и ее метрологическое обеспечение” 16-19 апр. 2013 г. Тезисы докл., 2013, с. 158
  • Левин Г.Г., Вишняков Г.Н., Золотаревский С.Ю. (ФГУП ВНИИМС), Лясковский В.Л., Нормативно-методическое обеспечение интерферометрии высокого разрешения, 19-я н-т конф. “Фотометрия и ее метрологическое обеспечение” 16-19 апр. 2013 г. Тезисы докл., 2013, с. 163
  • Латушко М.И., Левин Г.Г., Вишняков Г.Н., Интерферанционный микроскоп общего пути со светодиодом в качестве источника излучения, 19-я н-т конф. “Фотометрия и ее метрологическое обеспечение” 16-19 апр. 2013 г. Тезисы докл., 2013, с. 155
  • Вишняков Г.Н., Золотаревский С.Ю., Новиков Д.А., Измерительно-калибровочная установка на базе большепольной интерферометрии Физо, Метрология №12, 2012, с. 17
  • Минаев В.Л., Левин Г.Г., Волоконно-оптический интерферометр для измерения показателя преломления удаленных объектов, Метрология №11, 2012, с. 3
  • Моисеев Н.Н. (ВНИИОФИ), Цельмина И.Ю. (Раменский приборостроит. завод, Раменское), Измерение параметров шероховатости с использованием интерференционного микроскопа, Измерительная техника №9, 2012, с. 19
  • Минаев В.Л., Вишняков Г.Н., Интерференционный профилометр для измерения формы поверхности отражающих объектов, Метрология №9, 2012, с. 20
  • Юсипович А.И. (МГУ), Берестовская Ю.Ю. (Ин-т микробиологии РАН), Шутова В.В. (Ин-т микробиологии РАН), Левин Г.Г. (ВНИИОФИ), Герасименко Л.М. (Ин-т микробиологии РАН), Максимов Г.В. (МГУ), Рубин А.Б. (МГУ), Новые возможности исследования микробиологических объектов методом лазерной интерференционной микроскопии, Метрология №3, 2012, с. 17
  • Кашуба А.С., Колмакова О.А., Сизов А.Л., Мирофянченко А.Е., Пермикина Е.А., Бурлаков И.Д., Дёмин А.В. (ВНИИОФИ), Исследование пассивирующего покрытия теллурида кадмия, выращенного на поверхности эпитаксиальных слоев СdxHg1-xTe, Труды ХХII Международной научн.-техн. конференции по фотоэлектронике и приборам ночного видения 22-25 мая, 2012, с. 316
  • Вишняков Г.Н., Цельмина И.Ю.(Раменский приборостроит.з-д, Раменское), Измерение радиуса кривизны и децентровки подложек лазерных зеркал на компьютерном интерференционном профилометре, Измерительная техника №8, 2012, с. 37
  • Моисеев Н.Н., Золотаревский С.Ю.(ВНИИМС), Эталонные средства измерений в оптической интерферометрии высокого разрешения, Измерительная техника №8, 2012, 35
  • Минаев В.Л., Динамический интерференционный микроскоп для измерения параметров живых биообъектов, Метрология №8, 2012, с. 24
  • Минаев В.Л., Юсипович А.И.(МГУ), Использование автоматизированного интерференционного микроскопа в биологических исследованиях, Измерительная техника №7, 2012, с. 66
  • Минаев В.Л., Интерференционный микроскоп для измерения формы поверхности в микро-и нанодиапазонах, Метрология №7, 2012, с. 19

архив публикаций»

 
МЕТРОЛОГИЯ В ЗДРАВООХРАНЕНИИ И ПРОИЗВОДСТВЕ МЕДИЦИНСКОЙ ТЕХНИКИ
ГЕНЕРИРОВАНИЕ И ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ИМПУЛЬСОВ
МЕТРОЛОГИЯ В ОБЛАСТИ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ
МЕТРОЛОГИЯ В ОБЛАСТИ НАНО
АТОМНО-СПЕКТРАЛЬНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ
МЕТРОЛОГИЯ БЫСТРОПРОТЕКАЮЩИХ ПРОЦЕССОВ
ПРОЧИЕ
 

Услуги

ФГУП «ВНИИОФИ» оказывает услуги по
поверке, калибровке средств измерений, аттестации методик проведения измерений

Приборы

В соответствии с положениями устава ФГУП «ВНИИОФИ» изготавливает и реализует высокоточные средства измерений

Метрологические характеристики могут уточняться в договорах на поставку конкретных средств измерений

ЭТАЛОННАЯ БАЗА

На базе ФГУП «ВНИИОФИ» размещена уникальная база
государственных первичных эталонов

Copyright ВНИИОФИ | iDesign&ServisDesk | 2009 - 2017

s.e.o.:NBmarketing