Архив Новостей

ПОИСК И НАВИГАЦИЯ

АРХИВ НОВОСТЕЙ ВНИИОФИ

Архив информации для посетителей сайта, гостей, коллег и партнеров о событиях и мероприятиях ФГУП ВНИИОФИ

20 - 22.04.2011

Состоится семинар «Метрологическое обеспечение в области неразрушающего контроля»

30.03.2011

НИО М-44 посетила делегация фирмы Samsung Electronics

24.03.2011

ФГУП «ВНИИОФИ» прошел регистрацию на федеральных площадках для размещения открытых аукционов в электронной форме

22.03.2011

Проведена модернизация автоматизированного интерференционного микропрофилометра (АИМ)

22.03.2011

Разработаны четыре новые методики выполнений измерений по медицине

21.03.2011

Начались выпуск и продажа стандартных образцов диаметра наносфер золота в жидкой среде

14.03.2011

Состоялось заседание НТС по итогам 2010 года

22.11.2010

Сахарову К.Ю. вручен диплом доктора наук

01-03.11.2010

Состоялся III Международный форум по нанотехнологиям «RUSNANOTECH 2010»

14-15.10.2010

Состоялся Форум качества КООМЕТ

11-13.10.2010

Проведена внешняя проверка Системы менеджмента качества в рамках КООМЕТ

08.09.2010

Состоялось совещание представителей региональных и отраслевых отделений Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии.

15.07.2010

Утверждены новые государственные эталоны

24.05.2010

Конференция посвященная 100-летию Б.М.Степанова

Наверх

ФГУП ВНИИОФИ оказывает услуги по

поверке, калибровке средств измерений, аккредитации методик проведения измерений, аккредитации лабораторий неразрушающего контроля

Лицензия на производство приборов и средств измерений

Лицензия № 004499-ИР

от 16.04.2008

На базе ФГУП ВНИИОФИ размещена уникальная база

государственных первичных эталонов.