Росстандарт и ВНИИОФИ объявляют о проведении Второй Всероссийской научно-технической конференции «Метрологическое обеспечение нанотехнологий» 17 мая 2016 года.
metrolexpo16
 
Росстандарт и ВНИИОФИ объявляют о проведении Второй Всероссийской научно-технической конференции «Метрологическое обеспечение нанотехнологий» 17 мая 2016 года.
 
Конференция пройдет на ВДНХ в павильоне №69 во время проведения инновационного 12-го форума и выставки «Точные измерения - основа качества и безопасности» (MetrolExpo’2016), приуроченных к Всемирному Дню метрологии, с 17 по 19 мая 2016 года.

Целью конференции являются:
  • демонстрация результатов научно-исследовательской деятельности в области метрологического обеспечения нанотехнологий;
  • совершенствование средств и методов метрологического обеспечения в области нанотехнологий;
  • развитие метрологической инфраструктуры нанотехнологий;
  • выявление перспективных проектов развития метрологии в нанотехнологиях, направлений, их продвижение и реализация;
  • развитие инновационных технологий по метрологическому обеспечению в области нанотехнологий;
  • проведение испытаний, поверки, калибровки средств измерений, аттестации методов измерений для  метрологического обеспечения нанотехнологий;
  • подготовка кадров в области метрологического обеспечения нанотехнологий.

Дополнительная информация в прикрепленном файле

Услуги

ФГУП «ВНИИОФИ» оказывает услуги по
поверке, калибровке средств измерений, аттестации методик проведения измерений

Приборы

В соответствии с положениями устава ФГУП «ВНИИОФИ» изготавливает и реализует высокоточные средства измерений

Метрологические характеристики могут уточняться в договорах на поставку конкретных средств измерений

ЭТАЛОННАЯ БАЗА

На базе ФГУП «ВНИИОФИ» размещена уникальная база
государственных первичных эталонов

Copyright ВНИИОФИ | iDesign&ServisDesk | 2009 - 2017

s.e.o.:NBmarketing