22 - 24 апреля 2014
Первая Всероссийская научно-техническая конференция «Метрология в нанотехнологиях»

nano_konference

1Conferention

22 - 24 апреля 2014 Прошла Первая Всероссийская научно-техническая конференция «Метрология в нанотехнологиях» Конференцию провело Федеральное агентством по техническому регулированию и метрологии совместно с ФГУП «ВНИИОФИ» при поддержке Минобрнауки, Минпромторга.

Цели конференции:

  • Демонстрация результатов научно-исследовательской деятельности в области метрологического обеспечения нанотехнологий;
  • Совершенствование средств и методов метрологического обеспечения в области нанотехнологий;
  • Развитие метрологической инфраструктуры нанотехнологий;
  • Выявление перспективных проектов развития метрологии в нанотехнологиях, направлений, их продвижение и реализация;
  • Развитие инновационных технологий по метрологическому обеспечению в области нанотехнологий;
  • Проведение испытаний, поверки, калибровки средств измерений, аттестации методов измерений для метрологического обеспечения нанотехнологий;
  • Подготовка кадров в области метрологического обеспечения нанотехнологий.

Услуги

ФГУП «ВНИИОФИ» оказывает услуги по
поверке, калибровке средств измерений, аттестации методик проведения измерений

Приборы

В соответствии с положениями устава ФГУП «ВНИИОФИ» изготавливает и реализует высокоточные средства измерений

Метрологические характеристики могут уточняться в договорах на поставку конкретных средств измерений

ЭТАЛОННАЯ БАЗА

На базе ФГУП «ВНИИОФИ» размещена уникальная база
государственных первичных эталонов

Copyright ВНИИОФИ | iDesign&ServisDesk | 2009 - 2017

s.e.o.:NBmarketing