ПИК-30М предназначен для измерения относительных высот профиля поверхности (топограмм) полированных изделий
 
Описание

Госреестр № 48169-11

pic30

Программное обеспечение для обработки полученных топограмм позволяет вычислять:

  • Радиус кривизны сферических поверхностей;
  • Среднее квадратическое отклонение и предельное отклонение измеренной топограммы от плоской и сферической поверхности;
  • «Децентровку» сферической поверхности относительно геометрического центра подложки сферического зеркала в диапазоне от 0,1 мм до 5,0 мм.

pic30_izm

Измерение профиля поверхности и кривизны сферического зеркала

Состав:

  • Профилометр интерференционный компьютерный ПИК-30М - 1 шт.;
  • ПЭВМ - 1 шт.;
  • Ложемент - 2 шт.;
  • Диск с программным обеспечением - 1 шт.;
  • Соединительные кабели - 3 шт.;
  • Руководство по эксплуатации, включающее методику поверки - 1 шт.

zakazat

Стоимость 2 124 000 руб. *

ПИК-30М предназначен для измерения относительных высот профиля поверхности (топограмм) полированных изделий, в том числе подложек сферических зеркал, диаметр которых не превышает 30 мм, высота не превышает 10 мм, а радиус кривизны лежит в диапазоне от 2 м до 7 м.

ПИК-30М позволяет работать с полированными изделиями без зеркального покрытия, коэффициент отражения которых не менее 4%.

ПИК-30М позволяет измерять участки крупногабаритных деталей до 150 мм.

Принцип действия прибора основан на интерференции световых пучков лазерного излучения, отраженного от плоского зеркала и поверхности измеряемого изделия. В основе прибора лежит оптическая схема интерферометра Тваймана-Грина.

Прибор состоит из двух частей: интерферометра и блока управления и обработки информации.

В интерферометре световой поток от He-Ne лазера, пройдя через коллимирующее устройство, попадает на светоделительную призму, после которой направляется в предметное и опорное плечи интерферометра. В предметном плече располагается исследуемое изделие, закрепленное в специальной оправке, в опорном – плоское зеркало. Отразившись от предмета и плоского зеркала световые пучки сходятся на светоделительной призме. Интерференционное изображение строится объективом в плоскости регистратора – ПЗС камеры.

Компьютерная расшифровка интерферограмм производится по методу дискретного фазового сдвига, вносимого плоским зеркалом, сдвигаемым пьезоэлементом. В результате обработки интерферограмм восстанавливается двумерная карта высот профиля поверхности объекта (топограммы) относительно начальной точки, выбираемой оператором.

line168

Контактные данные

levin_2
convert1
Стоимость оборудования
 
ПИК-30М
2 124 000 руб. (с учетом НДС)
* стоимость указана с учетом НДС
 
Технические характеристики
 
Поле зрения
30×40 мм
Диапазон измерений высоты профиля поверхности
0,005 ÷ 30 мкм
Диапазон измерения радиуса кривизны
2000 ÷ 7000 мм
Разрешающая способность
- в плоскости XY
- по оси Z

0,1 мм
0,006 мкм
Источник излучения
лазер
Длина волны излучения
0,632 мкм
Алгоритм реконструкции
метод фазовых шагов
Размерность изображения
1392×1040 пикселей
Время измерения высоты профиля поверхности, не более
30 сек
Электропитание от сети переменного тока
– напряжение питания
– частота

220 ± 22 В
50 ± 1 Гц
Потребляемая мощность, не более
350 Вт
Габаритные размеры профилометра
220×400×480 мм
Масса профилометра
40 кг
 
Все поставляемое оборудование ВНИИОФИ прошло первичную поверку

Услуги

ФГУП «ВНИИОФИ» оказывает услуги по
поверке, калибровке средств измерений, аттестации методик проведения измерений

Приборы

Лицензия на производство приборов и средств измерений

Лицензия № 004499-ИР

ЭТАЛОННАЯ БАЗА

На базе ФГУП «ВНИИОФИ» размещена уникальная база
государственных первичных эталонов

Copyright ВНИИОФИ | iDesign&ServisDesk | 2009 - 2016

s.e.o.:NBmarketing