ПИК-30М предназначен для измерения относительных высот профиля поверхности (топограмм) полированных изделий
 
Описание

Госреестр № 48169-11

pic30

Программное обеспечение для обработки полученных топограмм позволяет вычислять:

  • Радиус кривизны сферических поверхностей;
  • Среднее квадратическое отклонение и предельное отклонение измеренной топограммы от плоской и сферической поверхности;
  • «Децентровку» сферической поверхности относительно геометрического центра подложки сферического зеркала в диапазоне от 0,1 мм до 5,0 мм.

pic30_izm

Измерение профиля поверхности и кривизны сферического зеркала

Состав:

  • Профилометр интерференционный компьютерный ПИК-30М - 1 шт.;
  • ПЭВМ - 1 шт.;
  • Ложемент - 2 шт.;
  • Диск с программным обеспечением - 1 шт.;
  • Соединительные кабели - 3 шт.;
  • Руководство по эксплуатации, включающее методику поверки - 1 шт.

zakazat

Стоимость 2 124 000 руб. *

ПИК-30М предназначен для измерения относительных высот профиля поверхности (топограмм) полированных изделий, в том числе подложек сферических зеркал, диаметр которых не превышает 30 мм, высота не превышает 10 мм, а радиус кривизны лежит в диапазоне от 2 м до 7 м.

ПИК-30М позволяет работать с полированными изделиями без зеркального покрытия, коэффициент отражения которых не менее 4%.

ПИК-30М позволяет измерять участки крупногабаритных деталей до 150 мм.

Принцип действия прибора основан на интерференции световых пучков лазерного излучения, отраженного от плоского зеркала и поверхности измеряемого изделия. В основе прибора лежит оптическая схема интерферометра Тваймана-Грина.

Прибор состоит из двух частей: интерферометра и блока управления и обработки информации.

В интерферометре световой поток от He-Ne лазера, пройдя через коллимирующее устройство, попадает на светоделительную призму, после которой направляется в предметное и опорное плечи интерферометра. В предметном плече располагается исследуемое изделие, закрепленное в специальной оправке, в опорном – плоское зеркало. Отразившись от предмета и плоского зеркала световые пучки сходятся на светоделительной призме. Интерференционное изображение строится объективом в плоскости регистратора – ПЗС камеры.

Компьютерная расшифровка интерферограмм производится по методу дискретного фазового сдвига, вносимого плоским зеркалом, сдвигаемым пьезоэлементом. В результате обработки интерферограмм восстанавливается двумерная карта высот профиля поверхности объекта (топограммы) относительно начальной точки, выбираемой оператором.

line168

Контактные данные

8 (800) 350 25 51 доб. 3605
8 (495) 665 52 91
Стоимость оборудования
 
ПИК-30М
2 124 000 руб. (с учетом НДС)
* стоимость указана с учетом НДС
 
Технические характеристики
 
Поле зрения
30×40 мм
Диапазон измерений высоты профиля поверхности
0,005 ÷ 30 мкм
Диапазон измерения радиуса кривизны
2000 ÷ 7000 мм
Разрешающая способность
- в плоскости XY
- по оси Z

0,1 мм
0,006 мкм
Источник излучения
лазер
Длина волны излучения
0,632 мкм
Алгоритм реконструкции
метод фазовых шагов
Размерность изображения
1392×1040 пикселей
Время измерения высоты профиля поверхности, не более
30 сек
Электропитание от сети переменного тока
– напряжение питания
– частота

220 ± 22 В
50 ± 1 Гц
Потребляемая мощность, не более
350 Вт
Габаритные размеры профилометра
220×400×480 мм
Масса профилометра
40 кг
 
Все поставляемое оборудование ВНИИОФИ прошло первичную поверку

Услуги

ФГУП «ВНИИОФИ» оказывает услуги по
поверке, калибровке средств измерений, аттестации методик проведения измерений

Приборы

В соответствии с положениями устава ФГУП «ВНИИОФИ» изготавливает и реализует высокоточные средства измерений

Метрологические характеристики могут уточняться в договорах на поставку конкретных средств измерений

ЭТАЛОННАЯ БАЗА

На базе ФГУП «ВНИИОФИ» размещена уникальная база
государственных первичных эталонов

Copyright ВНИИОФИ | iDesign&ServisDesk | 2009 - 2017

s.e.o.:NBmarketing