Руководитель научно-исследовательского отделения

Левин Геннадий Генрихович
д.т.н., профессор

Этот e-mail адрес защищен от спам-ботов, для его просмотра у Вас должен быть включен Javascript

Руководитель научно-исследовательской лаборатории

Вишняков Геннадий Николаевич
д.т.н., профессор

Этот e-mail адрес защищен от спам-ботов, для его просмотра у Вас должен быть включен Javascript

• Проведение фундаментальных и прикладных научных исследований в области голографии и оптической томографии
• Создание эталонной базы в области рефрактометрии, поляриметрии, эллипсометрии и офтальмологии

• Метрологическое обеспечение в области рефрактометрии, поляриметрии, эллипсометрии и офтальмологии
• Научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы в области:
  • оптической томографии (микротомография биообъектов, эмиссионная томография)
  • голографии
  • оптической нанопрофилометрии
  • оптической профилометрии макрообъектов
  • трехмерной (3D) биометрии
  • рефрактометрии, поляриметрии и эллипсометрии

Перейти к списку публикаций специалистов подразделения »

Подразделение выполняет поверку средств измерений в целях определения соответствия средств измерений заявленным метрологическим требованиям.

Стоимость поверки средств измерений »

Государственный первичный эталон единиц эллипсометрических углов

ГЭТ 186-2010

Государственный первичный эталон единиц эллипсометрических углов используется для исследования физико-химических свойств поверхности, ее морфологии, для измерения толщин многослойных структур и характеризации оптических свойств тонких пленок.

Государственный первичный эталон единицы показателя преломления

ГЭТ 138-2010

Государственный первичный эталон применяют для воспроизведения и хранения единицы показателя преломления твердых и жидких веществ и передачи размера единицы показателя преломления при помощи рабочих эталонов рабочим средствам измерений. (ГОСТ 8.583-2003)

Государственный первичный эталон единицы угла вращения плоскости поляризации

ГЭТ 50-2008

Предназначен для воспроизведения и хранения единицы угла вращения плоскости поляризации и передачи размера единицы при помощи рабочих эталонов рабочим средствам измерений. (ГОСТ 8.590-2009)

Рабочий эталон нулевого разряда средств измерения вершинной рефракции и призматического действия очковой оптики

ВЭТ 138-1-2006

Рабочий эталон нулевого разряда состоит из двух эталонных комплексов средств измерений и вспомогательных устройств.

Интерферометр световолоконный автоматизированный ИСА-1

Госреестр № 48170-11

ИСА-1 предназначен для измерения распределения показателя преломления объектов в микро- и нанодиапазоне на основе анализа двумерного распределения оптической разности хода (ОРХ) между прошедшим через исследуемый объект излучением и опорным излучением.

Интерферометр Физо автоматизированный ИФА-300

Госреестр №

ИФА-300 является программно-аппаратным комплексом для автоматизации измерений на интерферометрах, построенных по типу Физо, и применяется для измерений отклонений от сферичности и плоскостности прецизионных поверхностей оптических деталей и оптических систем.

Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д

Госреестр № 48172-11

МИА-Д предназначен для измерения профиля поверхности отражающих динамических объектов в микро- и нанодиапазоне, а также распределения показателя преломления прозрачных динамических объектов (при использовании специальной кюветы). Использование высокоскоростной камеры позволяет проводить измерения с частотой 50 Гц.

Наборы мер показателя преломления эталонные МППЭ-Т

Госреестр № 31044-06

Предназначены для передачи размера единицы рабочим эталонам 2-го разряда сличением при помощи компаратора (гониометра) и рабочим средствам измерений (гониометрам-спектрометрам) – методом прямых измерений в соответствии с ГОСТ 8.583-2003

Набор оптических мер для поверки офтальмологических приборов НОМ-3

Госреестр № 40378-09

Предназначен для определения метрологических характеристик офтальмологических приборов: рефрактометров, кераторефрактометров и кератометров (офтальмометров), при проведении их первичной и периодической поверки.

Профилометр интерференционный компьютерный ПИК-30М

Госреестр № 48169-11

ПИК-30М предназначен для измерения относительных высот профиля поверхности (топограмм) полированных изделий, в том числе подложек сферических зеркал, диаметр которых не превышает 30 мм, высота не превышает 10 мм, а радиус кривизны лежит в диапазоне от 2 м до 7 м.

Комплекты приспособлений для поверки диоптриметров КПП-2Р

Госреестр № 36542-07

Предназначен для определения метрологических характеристик отечественных и импортных диоптриметров при проведении их первичной и периодической поверки, калибровки, ремонта.

Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр)

Госреестр № 48171-11

Предназначен для измерения профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне, а также распределения показателя преломления прозрачных объектов.

Измерительная 3D камера

Предназначена для бесконтактного измерения трехмерной формы лица и других динамических объектов.

Измерительная интраоральная 3D камера для стоматологии

Интраоральная 3D камера предназначена для бесконтактного измерения трехмерной поверхности зуба непосредственно в полости рта пациента.

• Методика измерений нелинейных восприимчивостей второго и третьего порядков для процессов генерации второй и третьей оптических гармоник. ФР.1.27.2010.07801 С.А. 11/2010
  (Разработана совместно с сотрудниками физического факультета МГУ им. М.В. Ломоносова)
• Методика измерений нелинейной восприимчивости третьего порядка для процесса самовоздействия света методом анализа профиля лазерного пучка. ФР.1.27.2010.07802 С.А. 12/2010
  (Разработана совместно с сотрудниками физического факультета МГУ им. М.В. Ломоносова)
• Методика измерений трехмерного пространственного распределения интенсивности локального оптического поля на сканирующем микроскопе ближнего поля с использованием стандартных образцов наноструктур и фотонных кристаллов. ФР.1.27.2010.07804 С.А. 13/2010
  (Разработана совместно с сотрудниками физического факультета МГУ им. М.В. Ломоносова)
• Методика измерений трехмерного пространственного распределения поляризационных характеристик локального оптического поля в субдлинноволновом диапазоне на сканирующем микроскопе ближнего поля с использованием стандартных образцов наноструктур и фотонных кристаллов. ФР.1.27.2010.07803 С.А. 14/2010
  (Разработана совместно с сотрудниками физического факультета МГУ им. М.В. Ломоносова)
• Методика измерений спектров пропускания и отражения одномерных и трехмерных фотонных кристаллов с помощью монохроматора/спектрографа SOLAR LS M266. ФР.1.27.2010.07800 С.А. 10/2010
  (Разработана совместно с сотрудниками физического факультета МГУ им. М.В. Ломоносова)
• Методика измерения. Определение внутриклеточной массы интерференционным методом. Федеральный реестр № ФР.1.29.2009.06576. Методика выполнения измерений предназначена для измерений внутриклеточной массы в живых клетках интерференционным методом с использованием автоматизированного интерференционного микроскопа.
  Пределы измерений: 20 – 100 пг
  Пределы погрешности измерений: ±2%
• Методика измерения. Структурно-динамические свойства цитоплазмы эритроцита. Федеральный реестр № ФР.1.27.2009.06577 Методика выполнения измерений предназначена для измерений структурно-динамических свойств цитоплазмы эритроцита интерференционным методом с использованием автоматизированного интерференционного микроскопа.

• эффективный радиус эритроцита 5 – 10 мкм
• объем 50-150 мкм³
• площадь эритроцита 70 – 320 мкм²

• эффективный радиус эритроцита ±2%
• объем ±2%
• площадь эритроцита ±2%

• поверка офтальмометров
• поверка линеек скиаскопических
• поверка наборов пробных очковых линз и призм
• поверка диоптриметров
• поверка диоптриметров импортных
• поверка авторефрактометров
• поверка кератометров
• поверка рефрактометров
• поверка мер показателей преломления
• поверка поляриметров
• поверка пластин поляриметрических
• испытания средств измерений для целей утверждения типа
• испытания на соответствие средств измерений утвержденному типу

Руководитель научно-исследовательского отделения

Левин Геннадий Генрихович

Руководитель научно-исследовательской лаборатории

Вишняков Геннадий Николаевич