Проведение фундаментальных и прикладных научных исследований в области голографии и оптической томографии, создание эталонной базы в области рефрактометрии, поляриметрии, эллипсометрии и офтальмологии
 
Руководители

Руководитель

Левин Геннадий Генрихович
д.т.н., профессор

 

Levin

Заместитель руководителя

Бочарова Надежда Вениаминовна

bocharova

Руководитель научно-исследовательской лаборатории

Вишняков Геннадий Николаевич
д.т.н., профессор

Vishnyakov

Начальник лаборатории

Минаев Владимир Леонидович
к.т.н.

minaev

Заместитель начальника лаборатории

Грак Сергей Дмитриевич

Grak

   
Ответственные специалисты

Руководитель научно-исследовательской лаборатории

Вишняков Геннадий Николаевич
д.т.н., профессор

levin_2

convert1

 

По вопросам поверки

Белякова Тамара Федоровна

belyakova_2

convert1

Основные направления деятельности
  • Проведение фундаментальных и прикладных научных исследований в области голографии и оптической томографии
  • Создание эталонной базы в области рефрактометрии, поляриметрии, эллипсометрии и офтальмологии
Основные задачи
  • Метрологическое обеспечение в области рефрактометрии, поляриметрии, эллипсометрии и офтальмологии
  • Научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы в области:
    • оптической томографии (микротомография биообъектов, эмиссионная томография)
    • голографии
    • оптической нанопрофилометрии
    • оптической профилометрии макрообъектов
    • трехмерной (3D) биометрии
    • рефрактометрии, поляриметрии и эллипсометрии
Значимые публикации

Перейти к списку публикаций специалистов подразделения »

Поверка средств измерений

Подразделение выполняет поверку средств измерений в целях определения соответствия средств измерений заявленным метрологическим требованиям.

Стоимость поверки средств измерений »

Эталонная база подразделения

Overall_000776-M44-GET-205-2013-FOTO-IMG_0018-001

Государственный первичный эталон единицы оптической силы очковой оптики

ГЭТ 205-2013

Государственный первичный эталон применяют для воспроизведения, хранения единиц вершинной рефракции (диоптрии – метр в минус первой степени, дптр (м-1)) и призматического действия (призменной диоптрии – сантиметр деленный на метр, пр дптр (см/м)) очковой оптики (эталон), значения которых получены расчетным путем, и последующей передачи указанных единиц через рабочие эталоны рабочим средствам измерений.

 

get203-2012-sm

Государственный первичный эталон единицы комплексного показателя преломления

ГЭТ 203-2012

Государственный первичный эталон применяют для контроля технологических параметров (толщина, композиция состава, величина шероховатости) в полупроводниковой наноэлектронике, в рентгеновской оптике, оптике интерференционных покрытий, включающих слои металлов.

 

Overall_001173-M44-GET-186-2010-FOTO-IMG_0347-004

Государственный первичный эталон единиц эллипсометрических углов

ГЭТ 186-2010

Государственный первичный эталон единиц эллипсометрических углов используется для исследования физико-химических свойств поверхности, ее морфологии, для измерения толщин многослойных структур и характеризации оптических свойств тонких пленок.

 

Overall_001166-M44-GET-138-2010-FOTO-IMG_0332-004

Государственный первичный эталон единицы показателя преломления

ГЭТ 138-2010

Государственный первичный эталон применяют для воспроизведения и хранения единицы показателя преломления твердых и жидких веществ и передачи размера единицы показателя преломления при помощи рабочих эталонов рабочим средствам измерений. (ГОСТ 8.583-2003)

 

Overall_001175-M44-GET-50-2008-FOTO-IMG_0350-003

Государственный первичный эталон единицы угла вращения плоскости поляризации

ГЭТ 50-2008

Предназначен для воспроизведения и хранения единицы угла вращения плоскости поляризации и передачи размера единицы при помощи рабочих эталонов рабочим средствам измерений. (ГОСТ 8.590-2009)

 
Поставляемое оборудование

001154-M44-DEA-1-FOTO-IMG_0312-004

Диоптриметр эталонный автоматизированный ДЭА-1

Госреестр № 46518-11

Диоптриметр эталонный автоматизированный ДЭА-1, разработанный на базе серийного автоматического лензметра LM-500 (NIDEK, Япония), предназначен для первичной и периодических поверок Наборов пробных очковых линз и призм, и скиаскопических линеек.

Стоимость 944 000 руб.

 

000773-M44-DEA-2-FOTO-IMG_0005-001

Диоптриметр эталонный автоматизированный ДЭА-2

Госреестр № 47215-11

Диоптриметр эталонный автоматизированный ДЭА-2 разработанный на базе серийного диоптриметра автоматического CLM-3100Р (HUVITZ, Южная Корея), предназначен для первичной и периодических поверок наборов пробных очковых линз и призм, и скиаскопических линеек.

Стоимость 944 000 руб.

 

Overall_000877-M44-ISA-1-FOTO-IMG_0073

Интерферометр световолоконный автоматизированный ИСА-1

Госреестр № 48170-11

ИСА-1 предназначен для измерения распределения показателя преломления объектов в микро- и нанодиапазоне на основе анализа двумерного распределения оптической разности хода (ОРХ) между прошедшим через исследуемый объект излучением и опорным излучением.

Производится под заказ, цена договорная

 

000821-M44-IFA-300-FOTO-IMG_0050-001

Интерферометр Физо автоматизированный ИФА-300

Госреестр №

ИФА-300 является программно-аппаратным комплексом для автоматизации измерений на интерферометрах, построенных по типу Физо, и применяется для измерений отклонений от сферичности и плоскостности прецизионных поверхностей оптических деталей и оптических систем.

Производится под заказ, цена договорная

 

000838-M44-MIA-D-FOTO-IMG_0057-001

Микроскоп интерференционный автоматизированный (динамический) МИА-Д

Госреестр № 48172-11

МИА-Д предназначен для измерения профиля поверхности отражающих динамических объектов в микро- и нанодиапазоне, а также распределения показателя преломления прозрачных динамических объектов (при использовании специальной кюветы). Использование высокоскоростной камеры позволяет проводить измерения с частотой 50 Гц.

Стоимость 2 124 000 руб.

 

000934-M44-MPPE-T-FOTO-IMG_0118-001

Наборы мер показателя преломления эталонные МППЭ-Т

Госреестр № 31044-06

Предназначены для передачи размера единицы рабочим эталонам 2-го разряда сличением при помощи компаратора (гониометра) и рабочим средствам измерений (гониометрам-спектрометрам) – методом прямых измерений в соответствии с ГОСТ 8.583-2003

Стоимость 354 000 руб.

 

000908-M44-NOM-3-FOTO-IMG_0094(11)-001

Набор оптических мер для поверки офтальмологических приборов НОМ-3

Госреестр № 40378-09

Предназначен для определения метрологических характеристик офтальмологических приборов: рефрактометров, кераторефрактометров и кератометров (офтальмометров), при проведении их первичной и периодической поверки.

Стоимость 295 000 руб.

 

pic30_sm

Профилометр интерференционный компьютерный ПИК-30М

Госреестр № 48169-11

ПИК-30М предназначен для измерения относительных высот профиля поверхности (топограмм) полированных изделий, в том числе подложек сферических зеркал, диаметр которых не превышает 30 мм, высота не превышает 10 мм, а радиус кривизны лежит в диапазоне от 2 м до 7 м.

Стоимость 2 214 000 руб.

 

000799-M44-KPP-3-FOTO-IMG_0043(10)-001

Комплекты приспособлений для поверки диоптриметров КПП-2Р

Госреестр № 36542-07

Предназначен для определения метрологических характеристик отечественных и импортных диоптриметров при проведении их первичной и периодической поверки, калибровки, ремонта.

Стоимость 177 000 руб.

 

000830-M44-MIA-1M-FOTO-IMG_0054-001

Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (микропрофилометр)

Госреестр № 48171-11

Предназначен для измерения профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне, а также распределения показателя преломления прозрачных объектов.

Стоимость 2 124 000 руб.

 

device_3D_face-sm

Измерительная 3D камера

Предназначена для бесконтактного измерения трехмерной формы лица и других динамических объектов.

Производится под заказ, цена договорная

 

device_3d-sm

Измерительная интраоральная 3D камера для стоматологии

Интраоральная 3D камера предназначена для бесконтактного измерения трехмерной поверхности зуба непосредственно в полости рта пациента.

Производится под заказ, цена договорная

Разработанные методики
  • Методика измерений нелинейных восприимчивостей второго и третьего порядков для процессов генерации второй и третьей оптических гармоник. ФР.1.27.2010.07801 С.А. 11/2010
    (Разработана совместно с сотрудниками физического факультета МГУ им. М.В. Ломоносова)
  • Методика измерений нелинейной восприимчивости третьего порядка для процесса самовоздействия света методом анализа профиля лазерного пучка. ФР.1.27.2010.07802 С.А. 12/2010
    (Разработана совместно с сотрудниками физического факультета МГУ им. М.В. Ломоносова)
  • Методика измерений трехмерного пространственного распределения интенсивности локального оптического поля на сканирующем микроскопе ближнего поля с использованием стандартных образцов наноструктур и фотонных кристаллов. ФР.1.27.2010.07804 С.А. 13/2010
    (Разработана совместно с сотрудниками физического факультета МГУ им. М.В. Ломоносова)
  • Методика измерений трехмерного пространственного распределения поляризационных характеристик локального оптического поля в субдлинноволновом диапазоне на сканирующем микроскопе ближнего поля с использованием стандартных образцов наноструктур и фотонных кристаллов. ФР.1.27.2010.07803 С.А. 14/2010
    (Разработана совместно с сотрудниками физического факультета МГУ им. М.В. Ломоносова)
  • Методика измерений спектров пропускания и отражения одномерных и трехмерных фотонных кристаллов с помощью монохроматора/спектрографа SOLAR LS M266. ФР.1.27.2010.07800 С.А. 10/2010
    (Разработана совместно с сотрудниками физического факультета МГУ им. М.В. Ломоносова)
  • Методика измерения. Определение внутриклеточной массы интерференционным методом. Федеральный реестр № ФР.1.29.2009.06576. Методика выполнения измерений предназначена для измерений внутриклеточной массы в живых клетках интерференционным методом с использованием автоматизированного интерференционного микроскопа.
    Пределы измерений: 20 – 100 пг
    Пределы погрешности измерений: ±2%
  • Методика измерения. Структурно-динамические свойства цитоплазмы эритроцита. Федеральный реестр № ФР.1.27.2009.06577 Методика выполнения измерений предназначена для измерений структурно-динамических свойств цитоплазмы эритроцита интерференционным методом с использованием автоматизированного интерференционного микроскопа.
Диапазоны измерений:
  • эффективный радиус эритроцита 5 – 10 мкм
  • объем 50-150 мкм3
  • площадь эритроцита 70 – 320 мкм2
Диапазона погрешности измерений:
  • эффективный радиус эритроцита ±2%
  • объем ±2%
  • площадь эритроцита ±2%
Разрабатываемые методики
  • поверка офтальмометров
  • поверка линеек скиаскопических
  • поверка наборов пробных очковых линз и призм
  • поверка диоптриметров
  • поверка диоптриметров импортных
  • поверка авторефрактометров
  • поверка кератометров
  • поверка рефрактометров
  • поверка мер показателей преломления
  • поверка поляриметров
  • поверка пластин поляриметрических
  • испытания средств измерений для целей утверждения типа
  • испытания на соответствие средств измерений утвержденному типу
Контактная информация

Руководитель

Левин Геннадий Генрихович
д.т.н., профессор

convert1


Заместитель руководителя

Бочарова Надежда Вениаминовна

convert1


Руководитель научно-исследовательской лаборатории

Вишняков Геннадий Николаевич
д.т.н., профессор

levin_2

convert1


Начальник лаборатории

Минаев Владимир Леонидович
к.т.н.

convert1


Заместитель начальника лаборатории

Грак Сергей Дмитриевич

convert1


По вопросам поверки

Белякова Тамара Федоровна

belyakova_2

convert1

 

Услуги

ФГУП «ВНИИОФИ» оказывает услуги по
поверке, калибровке средств измерений, аттестации методик проведения измерений

Приборы

Лицензия на производство приборов и средств измерений

Лицензия № 004499-ИР

ЭТАЛОННАЯ БАЗА

На базе ФГУП «ВНИИОФИ» размещена уникальная база
государственных первичных эталонов

Copyright ВНИИОФИ | iDesign&ServisDesk | 2009 - 2017

s.e.o.:NBmarketing